Оборудование

Микроскопы и интерферометры

SOLVER Next. Сканирующий зондовый микроскоп

Исследование морфологии поверхности тонких плёнок при помощи основных методик атомно-силовой микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и др.

Производитель/ НТ-МДТ, Россия

Микроскопы и интерферометры

Атомно-силовой микроскоп NT-MDT NTEGRA Prima II

Исследование морфологии поверхности тонких плёнок при помощи основных методик атомно-силовой микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и др.

Производитель/ НТ-МДТ, Россия

Микроскопы и интерферометры

Оптический профилометр MicroXAM-100

Предназначен для бесконтактного профилирования поверхности оптическим методом с белым светом. Прибор объединяет фазосмещающую технологию интерферометра и оптический микроскоп, что позволяет проводить бесконтактные 3D измерения поверхностной шероховатости с субнанометровым разрешением

Производитель/ KLA-Tencor, США

Микроскопы и интерферометры

Поляризационно-оптический микроскоп Axioscop 40 A Pol

Предназначен для материаловедения, медицинских, геологических и минералогических лабораторий, обучения и повседневной работы. Используется для исследования керамики, композиционных и строительных материалов; для исследования материалов: тонкие пластинки скал, пленки, волокна, биокристаллы и пигменты. Методы исследования: светлое и темное поле, фазовый контраст, VARIO - контраст, поляризованный свет

Производитель/ Carl Zeiss, Германия